葉面積指數(shù)測量儀介紹

葉面積指數(shù)測量儀介紹

葉面積指數(shù)測量儀是一款可無損測量葉面積指數(shù)的儀器，該儀器可測量葉面積指數(shù)、葉片平均傾角、散射輻射透過率、不同太陽高度角下的直射輻射透過率、不同太陽高度角下的消光系數(shù)、葉面積密度的方位分布、冠層內外的光合有效輻射（PAR）等。葉面積指數(shù)測量儀廣泛應用于作物、植物群體冠層受光狀況的測量分析以及農林業(yè)科研工作。

葉面積指數(shù)是生態(tài)系統(tǒng)的一個重要結構參數(shù)，能夠用于反映植物葉面數(shù)量和冠層結構變化等，能夠為植物冠層表面物質和能量交換的描述提供結構化的定量信息。葉面積指數(shù)測量儀采用國際上一致原理（比爾定律以及冠層孔隙與冠層結構相關的原理），通過專用魚眼鏡頭成像和CCD圖像傳感器測量冠層數(shù)據(jù)和獲取植物冠層信息。在通過專用分析軟件，獲得冠層相關指標和參數(shù)。具有準確、省時省力、快捷方便等特點。

功能特點：

1、葉面積指數(shù)測量儀可無損測量葉面積指數(shù)、葉片平均傾角以及冠層結構；

2、探頭體積小巧，裝在測杠上可任意角度測量植物冠層結構；

3、攝像頭可自動保持水平；

4、USB接口，測量時連接電腦實時查看圖像，即時選取所需圖像并保存；

5、外接大容量鋰電池，適用于野外工作和長時間測量；

6、測量冠層不同高度，可得到群體內光透過率和葉面積指數(shù)垂直分布圖；

7、儀器配有專用分析軟件，有選擇所需圖像區(qū)域的功能（天頂角可分10區(qū)，方位角可分10區(qū)），可屏蔽不合理的冠層部分，僅對有效圖像區(qū)域進行分析，使測量數(shù)據(jù)更加精確。

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